Metrotomgraphy,融合了计量学和层析X射线摄影法,开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或者根本不能进行质量保证检测的场合,现在可以进行高和无损测量。 断层扫描分析如同在工件内部测量:所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术,例如:装配检查,损伤和气孔分析,材料检验或损坏检查,如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样可行。 重要特征 深思熟虑的设计
机器技术
微聚焦X射线管
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蔡司工业CT断层扫描测量仪 产品信息