英国泰勒霍普森CCI SunStar非接触式光学轮廓仪
无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI SunStar非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量极其光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析。
CCI SunStar极大地扩展了分析能力,同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面,不需要进行复杂的测量模式切换,也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和,CCI SunStar可轻松地整合到您的质量管理系统中。
- 2048 x 2048像素阵列,视场广,高分辨率
- 全量程0.1埃的分辨率
- 轻松测量反射率为0.3% - 99%的各种表面
- 自动设置,避免了操作员之间的操作差异
- 多语言版本的64位控制和分析软件