NPFLEX 三维表面测量系统

针对大样品设计的非接触测试分析系统
灵活测量大尺寸、特殊角度的样品
高效的三维表面信息测量
垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
快速获取测量数据，测试过程迅速高效

• 创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多
• 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位

高效的三维表面信息测量

• 每次测量均可获得完整表面信息,并可用于多种分析目的
• 更容易获得更多的测量数据来帮助分析

垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

• 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
• 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障

测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效

• 最少的样品准备时间和测量准备时间
• 比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据

为客户量身订做最合适的仪器配置NPFLEX在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方案，满足不同客户的测量需求：?    可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位，测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。?  获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media，TTM)模块,，结合环境测试腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可对样品进行加热或者冷却，进行原位测量。?  可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。纳米级分辨率的三维表面信息测量大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些品性质，需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航 天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品，往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征，获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。  快速获取数据，保证测试迅速高效NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。自动对焦，光强调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。