简单介绍
X射线荧光分析仪EDX-GP的详细介绍
EDX-GP是用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。
次使用，也能轻松操作，操作简便且以更高的精度进行微量分析，达到灵敏度与分辨率的结合。
标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，使可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统.
测试步骤：
操作简便，一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。
1st Step
放置样品
●将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。
●选择分析区域。
●关闭样品室。
2nd Step
选择分析条件／输入样品名称
●一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
●点击开始。
3rd Step
显示分析结果
●测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。
●点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。
只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，
自动执行从测定到结果的一系列操作。
■ 校准曲线自动选择功能
不含有害元素时，测定过程中能够判定结果时，即自动终止测定，缩短分析时间。
■ 省时功能
不含有害元素时
不含有害元素时，测定过程中能够判定结果时，即自动终止测定，缩短分析时间。
■ 适用省时功能的缩短时间示例
含量低于检出下限值时，判断不含有，测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限，与设定的200秒（=100秒＋100秒）分析时间相比，仅用了50秒（=25秒＋25秒）即结束分析，大幅度节约了时间。
有害元素含量高时
由设定的目标管理精度自动决定测定时间。
在测定精度达到管理值时结束测定。
■ 适用省时功能的缩短时间示例
测定高浓度元素时，在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度，而且误差变小，由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,设定的分析时间为200秒（=100秒＋100秒），实际仅用了40秒（=15秒＋25秒）即结束分析，大幅度节约了时间。
EDX-GP标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统。
标准配置改变照射直径的准直器＆样品图像观察组件
测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
10mmφ图像（塑胶）
3mmφ（金属）
形状校正功能
即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-GP通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。
※BG内标法
通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
测定结果列表管理
创建列表功能
已保存数据可以用Excel形式列表显示
超大样品室可以对应各种样品形态及大小。
采用超大样品室：可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身。
