比表面及平均孔径测量仪F-Sorb 3400是目前国内**自动化,智能化的比表面及孔径测定分析仪器,由金埃谱科技与兵器系统合作研发,秉承兵器行业高标准、严要求的技术宗旨,依据国际经典平均孔径测量理论和原理,采用国内外通用平均孔径测量方法,符合国际平均孔径测量标准,显著提高产品稳定性和使用寿命,测试结果更准确,操作简单快捷,大大降低测试人员工作量.比表面及平均孔径测量仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测试原理.相比国内同类产品,多项**技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品*水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性**,并获取上海检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中**一家注册资本超百万的生产企业,让您选购的产品无后顾之忧!
全自动比表面及平均孔径测量仪性能参数
测试方法:氮吸附连续流动法测试,BJH总孔体积,总孔面积及平均孔径测量,平均粒径估算,直接对比法比表面测量,BET法比表面(多点及单点)测量,Langmuir比表面测量,炭黑外比表面积测量,样品吸附常数C测定
测试功能:F-Sorb智能化测试模式,无人干预全自动测试,消除人为操作误差,提高测试精度
测量范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)；2nm-200nm孔径
流量调节:F-Sorb**功能,实现不同P/Po点流量软件控制自动调节,无需人工手动调节流量
定量标定:F-Sorb型定量气路由软件控制,按需自动切换脱附,无需人工手动操控定量开关,提高定量标定精度
控制系统:的集中的多功能控制系统,能实现测试过程的自动化及智能化,测试期间无需任何人工干预,仪器自动执行测试
样品数量:可同时进行4个样品的吸附或脱附测定
测试压力:常压下进行,无需抽真空,利于快速的比表面及平均孔径测量
测试精度:测量重复性误差≤2%
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
测试气体:载气为高纯He气(99.99%),吸附质为高纯N2(99.99%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
管路密封:采用高真空系统不锈钢管路,高密封性能,有效防止气体分子渗透导致的比表面及平均孔径测量误差;同时不锈钢管不存在老化问题,大大提高仪器稳定性和使用寿命
测试时间:每样品每 P/P0点吸附和脱附平均时间为5分钟(视样品吸附特性变化),四个样品分析平均时间20分钟左右(同时可测四个样品),比表面及平均孔径结果自动由软件实时得出
数据采集:高精度及高集成度数据采集及处理芯片,误差小,抗力强
数据处理:BET单点及多点线性拟合图,BJH孔径分布图及脱附等温线图,可根据需要选择中英文格式结果报表.分析与数据处理可同时进行,检测结果实时显示,详细的自动操作步骤记录及数据随测试结果文件保存
全自动比表面及平均孔径测量仪特点
A.比表面及平均孔径测量仪结构设计
1)简洁紧凑的外观结构设计,节省空间;可拆卸前面板防护罩,有效防止液氮溅洒安全隐患,同时降低环境因素对比表面及平均孔径测量过程的影响
2)采用全不锈钢管路系统,提高密封性能,有效防止气体分子渗透导致的比表面测量误差;同时不锈钢管不存在老化问题,可靠性和寿命大大提高
3)**的定量气体峰面积标定系统,可高效准确标定被测比表面积样品在不同分压下吸附气体量
B.比表面及平均孔径测量仪控制系统
1)采用*的控制技术,集中的多功能控制系统,一体化电机螺杆升降系统,比表面及平均孔径测量过程中液氮容器升降更平稳
2)**的电桥平衡电路,大幅提高信号电压灵敏度,同时实现信号零点漂移自动平衡,有利于实现比表面及平均孔径测量的自动化
3)完整的自动化操作设计,实现比表面及平均孔径测试过程智能化,无需人工干预或看守,大大降低测定人员工作量,提高工作效率
C.比表面及平均孔径测量仪数据采集及处理
1)采用进口的高精度流量传感器,实现流量精确控制;高精度数据采集、信号放大及A/D转换系统高度集成化,抗力强,实时性高.有利于降低比表面及平均孔径测量过程受环境因素的影响
2)采用超高灵敏度热导检测及平衡系统,大大提高可检测信号范围,满足平均孔径测量的高低点要求
3)自主开发的Windows兼容数据处理软件,功能完善,用户界面灵活定制,操作简单易懂;**的比表面及平均孔径数据处理模型，有效消除系统误差，提高比表面及平均孔径测量分析精度
4)多种理论计算模型数据分析,丰富的数据报告形式按需定制,为用户提供的材料比表面及平均孔径测量方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理
D.比表面及平均孔径测量仪测试优化
1)针对不同范围样品比表面测试要求,可"因地制宜"选择合适的仪器参数设置,有利于提高比表面及平均孔径测量结果的准确度
2)灵活的比表面测试与平均孔径测试转换,简化操作流程,提高比表面及平均孔径测试效率
3)针对平均孔径测量对高低点分压下样品吸附测定要求,采用**的流量控制方法,实现高低点气体分压精确控制
