测量原理
C-Quand在线X射线荧光元素分析仪基于成熟的元素分析技术-EDXRF技术，也即能量色散X射线荧光技术。该技术测量样品中原子产生的特征X射线光谱，更重要的是，这种测量方法在整个测量过程中是连续的，而不是只对起始时间进行瞬间测量。
技术参数
| 测量原理 | X射线能量色散技术 |
|---|---|
| 测量元素范围 | 原子序数14-92 |
| 测量范围 | 浓度等级从0.5ppm到%等级 |
| 测量范围 | 每台仪器最多可测量15种元素 |
| 精度 | 取决于具体应用，从ppm到%等级。稳定性：优于0.5% |
| 工业计算机 | Windows嵌入式操作系统，液晶彩屏，完整的ASCII键盘 |
| 模拟输出 | 独立的4-20mA模拟输出 |
| 通讯 | RS485 或 TCP/IP 的网络通讯协议(MODBUS) |
| 环境温度 | 5-40°C |
| X射线探头 | 硅漂移探测器，分辨率135eV，低噪声 |
| 高压电源 | 0-50kV |
| 测量源 | 15W X光射线管，银制电极 |
| 采样窗口 | Be铍 |
| 稳定性 | 自动偏移校正，自动反向散射峰校正 |
| 样品流速 | 0.2-0.5L/min |
| 样品池温度 | 可达80°C |
| 样品池压力 | 标准大气压 |
| 样品粘度 | <100 cSt (采样室温度为80°C) |
| 样品污染物 | >10微米需滤除，消除自由水 |
| 电源 | 110-230VAC， 50/60 Hz |
| 功耗 | 100VA |
| 仪表风 | 对于Exp型版本以及标配气动阀（可选电动阀）需要<2L/min的仪表风 |
产品特点
1 使用EDXRF技术，C-Quand可测量从硅（原子数14）到铀（原子数92）之间的任何元素，浓度范围从ppm到%，测量的浓度范围和精度根据具体应用而定。
- 2 长期测量的稳定性，通过内标消除检测器和电子漂移
- 3 直接测量，无需高温转换
- 4 样品池和第二个保护窗保护检测器免受样品污染
- 5 配置检漏仪，如果遇到检测窗破裂，可切断安全阀门
- 6 检测源是一个X射线管，意味着切换电源时，将停止辐射
- 7 可选加热测量池，可将粘度高达100cSt的高粘度样品加热至80℃
- 8 宽测量范围，从ppm到%水平均可保证测量结果的准确性
- 9 测量过程不受样品密度和C/H比变化的影响
- 10 配合高敏感度、低噪声的硅漂移探测器
- 11 连续无损测量，保证工艺不受干扰
- 12 日常维护简单，定期清理测量池即可，测量池可拆卸，方便清洁
- 13 可选择的信号输出模式，4-20mA信号，MODBUS TCP/IP或RS485
- 14 每台仪器多可测15种元素，测量的兼容性好
- 15 自动校正漂移，确保测量准确性
应用领域
XRF法是分析石油产品种总硫含量合适的方法，相比通过流动注射或转化法测二氧化硫和硫化氢得到硫含量的技术方法相比，当检测样品的沸点超过450℃时，不再适合总硫分析，应用行业包括：
- 石油精炼工业： 燃油和原油中总硫的测定、炼油催化剂中杂质和微量金属测定
- 化学工业： 石化工艺中催化剂的测定
- 电镀工业： 测定电镀槽中的金属元素
- 污水处理： 测定污水中的痕量金属元素
- 地质学： 稀土中元素分析、玉石元素成分分析
