CS2150H双恒电位仪内置两套恒电位/恒电流仪，每套恒电位仪各有一套辅助、工作和参比电极输出，并由CS Studio测试软件来协调输出电位/电流，CS2150H是真正意义上的双通道电化学工作站。
具体应用于：
1. 双通道独立使用，可同时进行两组常规电化学测试；
2.双通道组合使用，可用于电化学分析四电极工作体系，尤其在氧还原（ORR）中间产物收集、金属氢扩散测试有广泛应用。
技术优势
CS2150H双恒电位仪不仅具有CS单通道系列高精度、宽量程以及强大的数据分析处理功能，而且在原有产品的基础上创新突破。 CS2150H国内的双通道硬件设计可以实现两组实现体系的测试要求，同时，软件的组合编程功能大大提高了实验的便利性。
开路电位测量（OCP）、恒电位极化（i-t曲线）、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP）
暂态极化
任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、恒电位阶跃（VSTEP）、恒电流阶跃（ISTEP）
伏安分析
线性扫描伏安法（LSV）、线性循环伏安法（CV）
腐蚀测量
循环极化曲线（CPP）、线性极化曲线（LPR）、动电位再活化法（EPR)、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试
电池测试
电池充放电测试、恒电流充放电、恒电位充放电、恒电位间歇滴定技术（PITT）、恒电流间歇滴定技术（GITT）
扩展测量
盘环电极测试、数字记录仪
具体应用于：
1. 双通道独立使用，可同时进行两组常规电化学测试；
2.双通道组合使用，可用于电化学分析四电极工作体系，尤其在氧还原（ORR）中间产物收集、金属氢扩散测试有广泛应用。
技术优势
CS2150H双恒电位仪不仅具有CS单通道系列高精度、宽量程以及强大的数据分析处理功能，而且在原有产品的基础上创新突破。 CS2150H国内的双通道硬件设计可以实现两组实现体系的测试要求，同时，软件的组合编程功能大大提高了实验的便利性。
CS2150H双恒电位仪功能方法
开路电位测量（OCP）、恒电位极化（i-t曲线）、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP）
暂态极化
任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、恒电位阶跃（VSTEP）、恒电流阶跃（ISTEP）
伏安分析
线性扫描伏安法（LSV）、线性循环伏安法（CV）
腐蚀测量
循环极化曲线（CPP）、线性极化曲线（LPR）、动电位再活化法（EPR)、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试
电池测试
电池充放电测试、恒电流充放电、恒电位充放电、恒电位间歇滴定技术（PITT）、恒电流间歇滴定技术（GITT）
扩展测量
盘环电极测试、数字记录仪
硬件参数指标
| 双恒电位仪： 单恒电位电位控制范围：±10V 双恒电位仪电位控制范围:±10V | 恒电流控制范围：±2A |
| 电位控制精度：0.1%×满量程读数±1mV | 电流控制精度：0.1%×满量程读数 |
| 电位灵敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 电流灵敏度：1pA |
| 电位上升时间：＜1μs(<10mA),＜10μs(<2A) | 电流量程：2A～2nA, 共10档 |
| 参比电极输入阻抗：1012Ω||20pF | 输出电流：2A |
| 槽压输出：±21V | 电流扫描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV扫描速度：0.001mV～10,000V/s | 电位扫描电位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脉冲宽度：0.0001～65,000s | DPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000s |
| SWV频率：0.001～100KHz | CV的最小电位增量：0.075mV |
| AD数据采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 电流与电位量程：自动设置 |
| DA分辨率：16bit，建立时间：1μS | 低通滤波器 ：8段可编程 |
| 通讯接口：网口 | 仪器净重：7.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
配置
1）仪器主机1台
2）CS Studio测试与分析软件1套
3）模拟电解池1个
4）电源线、网线各1条
5）电极电缆线2条
6）屏蔽箱（选配*）
