emic紫外线强度计 磁粉探伤 测量高亮度 探伤机UV-D3的介绍
emic紫外线强度计 磁粉探伤 测量高亮度 探伤机UV-D3的介绍
用于控制紫外线强度。
用于控制黑光的紫外线强度。
波长为355-375纳米（nm）
具有峰值保持功能。
易于阅读的数字显示。
概述
该表面磁场测量仪是用于“JIS Z 2320 磁粉探伤”的高斯计。
由于可以在一次测量中测量测试对象的表面磁通密度（目标表面磁场估计），
有助于缩短测试时间和提高准确性。
特征
●外推磁场估计（配备霍尔元件2ch）
●真有效值交流测量
●电池驱动/手持型
emic磁场测量的高斯计 磁粉探伤 测磁通密度GMS-103的介绍
黑光系列
功耗约为传统的1/7。紫外线波长
采用355-375纳米（nm）LED，
最大中心强度约为 13mW/cm2，因此即使是很小的划痕也能应对。
此外，还安装了脉冲模式以优化图像处理型磁粉探伤。
特征
手持型
与手持式磁粉探伤仪结合使用。
只需将其连接到插座即可使用。
重量轻
