四川成都LED温度冲击试验机设备
混合型湿度循环试验冷热冲击试验箱
理念的混合型试验设备。
具有湿度循环试验的功能。
型号 | TSH-100-W | TSH-200-W | ||
方 式 | 2温区或3温区风门切换方式 | |||
性能 | 测试区域 | 高温曝露温度范围 | 冷热循环试验+70℃~ +150℃ 结露循环试验-10℃~ +100℃ | |
低温曝露温度范围 | -70℃~ +10℃ | |||
温度波动 | ± 1℃ | |||
湿度波动 | ± 5%RH | |||
高温恒温器 | 预热温度上限 | +150℃ | ||
湿度范围 | 40~95%RH(结露循环试验时) | |||
温度上升时间 | -10℃→+100℃ 30分以内 | |||
温度下降时间 | +20℃→-10℃ 60分以内 | |||
低温恒温器 | 预冷温度下限 | -75℃ | ||
温度上升时间 | -75℃→+10℃ 30分以内 | |||
温度下降时间 | 常温到-75℃ 60分以内 | |||
温度恢复性能 | 冷热循环试验 | 恢复条件 | 2温区高温曝露:+75℃ /60分 低温曝露:-35℃ /30分电源电压:AC200V传感器位置:试料上风口试料:铝合金170kg | |
恢复时间 | 高温恢复:10分以内(常温→+150℃) 低温恢复:10分以内(常温→ -65℃) | 高温恢复:16分以内(常温→+150℃) 低温恢复:16分以内(常温→ -65℃) | ||
结露循环试验1 | 恢复条件 | 2温区高温曝露:+75℃ /60分 低温曝露:-35℃ /30分电源电压:AC200V传感器位置:试料上风口试料:铝合金170kg | ||
恢复时间 | 高温恢复:20秒以内(5℃→+25℃90%RH) 低温恢复:3分以内(+25℃90%RH→ +5℃) | 高温恢复:20秒以内(+5℃→+25℃90%RH) 低温恢复:5分以内(+25℃90%RH→ +5℃) | ||
结露循环试验2 | 恢复条件 | 2温区高温曝露:+75℃ /60分 低温曝露:-35℃ /30分电源电压:AC200V传感器位置:试料上风口试料:铝合金170kg | ||
恢复时间 | 高温恢复:5分以内(-30℃→+25℃ 95%RH) 低温恢复:5分以内(+25℃ 95%RH→ -30℃) | 高温恢复:10分以内(常温→+150℃) 低温恢复:10分以内(常温→ -65℃) | ||
试料框承重 | 5?(试样均匀分布) | |||
测试区尺寸 | W650 × H460 ×D370mm | W650 × H460 ×D670mm | ||
本体外尺寸 | W1670 × H1900 ×D1570mm | W1670 × H1900 ×D1870mm | ||
重 量 | 约1300kg | 约1550kg | ||
※ 1环境温度+23℃时测得的数据 |
四川成都LED温度冲击试验机设备
设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求。
可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~99%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;
四川
设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验