napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80P的介绍
napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80P的介绍
产品特点
只需触摸手持探头即可测量电阻
在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换
通过 JOG 拨盘轻松设置测量条件
可互换连接器连接的电阻测量探头支持各种电阻
（电阻探头：最多可使用2+PN判断探头）
测量规格
测量对象
半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜（金属、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*请联系我们）
测量尺寸
不受样品尺寸和形状的影响（但是，大于 20 mmφ 且表面平坦的样品）均可测量
测量范围
[电阻率] 1m 至 200 Ω・cm
（*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时）
[薄层电阻] 10m 至 3k Ω/sq
节省空间，使用个人电脑轻松操作和数据处理
非接触式涡流法可实现无损伤测量
探头可拆卸和更换，因此每个量程的探头都可以轻松更换。
（*可选用于第二个和后续电阻探头）
1 中心点测量
测量对象
半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜（金属、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
