体验 Helios G4 UX DualBeam 的优点
- 使用具有的低压性能的新型 Phoenix 离子镜筒，可较快速、较容易地制备较高质量、特定位点、超薄透射电镜 和 三维原子探针样品
- 使用同类较佳 Elstar™ 电子镜筒获得纳米级信息的时间较短
- 凭借具有更高电流的下一代 UC+ 单色器技术，可以在低能量下实现亚纳米性能，从而显示极为细致的细节图像信息
- 可通过多达 7 个集成在镜筒内和透镜下的集成检测器获得具有清晰、精确且无荷电的对比度的较完整样品信息。
- 使用可选配的 Auto Slice View 4 (ASV4) 软件，精确地瞄准目标区域获取较高质量、多模态亚表面和 3D 信息。
- 对复杂结构进行快速、准确、精确的铣削和沉积，临界尺寸小于 10 nm
- 由于 150 mm Piezo 载物台和腔内 Nav-Cam 的高稳定性和准确性，可根据个体应用需求定制精确的样品导航。
- 基于集成样品清洁管理和专用成像模式（如 SmartScan™ 和 DCFI）的无伪影成像。
Helios G4 UX 是行业的 Helios DualBeam™ 系列第四代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，将创新的 Elstar 电子镜筒与高电流 UC + 技术结合，以实现较高分辨率成像和较高的材料对比度，与优越的 Phoenix 离子镜筒结合，用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备，并可进行 3D 表征，甚至对较具挑战性的样品也适用。
