漆膜测厚仪使用方法
别名：涂层测厚仪，数显铁基涂层测厚仪，磁性镀锌层测厚仪，漆膜油漆测厚仪，铁铝漆膜测厚仪，油漆厚度测试仪，漆膜厚度计，油漆厚度计，数显涂层测厚仪，表面涂层测厚仪,镀层测厚仪,内防腐测厚仪,油漆测厚仪,磁性测厚仪,覆层测厚仪,防腐层测厚仪,测厚仪表面涂层测厚仪|镀层测厚仪|内防腐测厚仪|涂层测厚仪|油漆测厚仪|磁性测厚仪|覆层测厚仪|防腐层测厚仪|漆膜测厚仪
漆膜测厚仪使用方法磁感应测量原理
MC-2000D型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上
镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来
指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。
磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层
MC-2000D镀层测厚仪涂层测厚仪覆层测厚仪|产品概述
MC-2000D型涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：10～9000um，它是的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代同类仪器的*水平。
MC-2000D涂层测厚仪应用范围
本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该涂层测厚仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
MC-2000D涂层测厚仪工作原理：
MC-2000D型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。
MC-2000D涂层测厚仪产品性能
1、测量范围： 10～9000um
2、测量误差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
(1).测量： 单探头全量程测厚
(2).存储、删除： 可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。
(3).读： 读出已存入的测量数据
(4).统计： 设有三个统计量，平均值zui大值zui小值
(5).校准： 可进行系统校准
(6).电量： 具有欠压显示功能
(7).打印： 可打印测量值，选配微型打印机
(8).关机： 具有自动关机和手动关机两种方法
6、电源： 两节1.5v电池
7、功耗： zui大功耗100mw
8、外形尽寸： 51mm*126mm*27mm
9、重量： 160g（含电池）
10、使用环境温度： 0℃～+40℃ 相对湿度：不大于90%
11、基体zui小厚度： 0.5mm
12、基体zui小平面的直径： 7mm
13、zui小曲率半径： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示： 右上角显示＂＂
*临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度
MC-2000D型涂层测厚仪配置单
MC-2000D说明书下载
1、MC-2000D型涂镀层测厚仪 一台
2、七号电池 二节
3、探头 一支
4、标准样片 一盒
5、小铝箱 一个
6、说明书、合格证 一套
选配件：
1、打印机及通讯打印连线 1套
2、微机通讯软件 1盘
3、内防腐探头
MC-2000D油漆涂层测厚仪漆膜测厚仪
1．影响因素的有关说明
a 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
售后承诺
我们的每一台产品出厂时都经过了严格的质量检验。
我们为所有仪器提供了可靠的质量和高度责任感的服务。该仪器享受一年的保修期,主机质量引起的故障返本公司两次以上，予以更换新机。
本公司产品终身维护,保修条款以随机保修书为准。
