超级分辨率场发射扫描电子显微镜/能谱仪

性能指标

1. 二次电子像分辨率
2. 高加速：0.8 nm@15.0 kV (GB)
3. 低加速：1.2 nm@1.0 kV (GB)
4. 极低加速：3.0 nm@0.1 kV (GB)
5. 分析：3.0 nm@15 kV, 5 nA, WD 10 mm， WD: 2.0 ～ 25.0 mm (LDF模式时可达41mm) 

主要应用

1. 该电镜及其附件主要用于各种材料的最细微纳米结构的观察;
2. 能够在低电压下为高磁性样品成像和分析;
3. GB和GBSH模式可减少非导电样品上的电荷;
4. 减少对高分辨成像的镜头像差影响;
5. 得到不导电样品的高分辨图像。

样品要求

1. 样品直径＜32mm，高度＜20mm。
2. 不接受粉末样品。
3. 可接金属块体，薄膜等固体样品。 

仪器说明

1. JSM-7800F具有浸没式肖特基电子枪；
2. 超级混合式物镜 : SHL；
3. 用新型探测器过滤电子能量。