DM2500
MMEDXRF轻中元素光谱仪
（通用型）
多单色激发实现高峰背比，使能测元素（B～Zn），
其准确度媲美大型波长色散光谱仪
通用型满足各行各业任何种类
物料元素浓度的测量要求
采用
多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术
对数螺线型双曲面弯晶(LSDCC)实现衍射并作为二次靶
高计数率、高分辨率、高透过率(AP3.3窗)SDD探测器
电压、电流、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管源
符合标准
GB/T3286.11
GB/T4333.5
YS/T63.16
GB/T24198
GB/T24231
GB/T34534
GB/T176
JB/T11145
JC/T1085
等
概述
DM2500MMEDXRF轻中元素光谱仪，详称DM2500多单色激发能量色散X射线荧光轻中元素（B～Zn）光谱仪，是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光硫钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪、X荧光光谱仪等的基础上研制推出的一种具创新性的XRF光谱仪。它采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技术。主要部件，如：单色晶体采用本公司研制的具有本公司的对数螺线旋转点对点聚焦锗单色晶体，X射线管采用KeyWay公司生产的50W微焦点大辐射角薄铍窗X射线管，并对其高压、电流、靶材进行组合， X射线探测器采用德国Ketek公司生产的具有高计数率、高能量分辨率、高透过率的常温用SDD半导体X射线探测器。并且采用具有本公司自主知识产权的轻元素专用的光学系统及多种方法组合使用的多个单色激发系统等的技术，极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比。它还采用X射线向下照射系统，样品自旋装置，特别适合粉末压片样品，且可根据应用选择真空系统或自充气系统。由此使本光谱仪达到水平。在与大型波长色散光谱仪的比较试验中，其大部分性能指标接近或达到大型波长色散光谱仪的性能指标，某些甚至超过。其性能指标相比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。且本光谱仪良好的屏蔽防护设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。
适用范围
DM2500MEDXRF轻中元素光谱仪可用于各行各业所有物料的含量测量。无论环保、冶金、化工、地质、矿山、电子电气、食品等各行业，还是压片、熔片、液体等各类型样品，只要用户所要求的测量元素在B(5)～Zn(30)的范围内，DM2500都能进行准确测量。其符合几乎所有元素测定XRF光谱法标准的相关要求，如：国家或行业标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化学分析方法 第11部分：氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）》、GB/T4333.5-2016《 硅铁 硅、锰、铝、钙、铬和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）》、YS/T63.16—2019《铝用碳素材料检测方法 第16部分：元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱分析方法》、GB/T24198-2009《镍铁.镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定.波长色散X射线荧光光谱法(常规法)》等。其还符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》、JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。
如贵用户对某些元素的测量有特殊的要求，则本公司可根据用户的要求更改单色激发系统和或软件系统以满足用户对测量元素的要求。
特点
快速同时–所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出含量结果。
高准确度–采用*MMEDXRF技术，LSDCC核心技术，根据所要测量的元素来选择单色光的能量及产生单色光的方法，极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，的准确度。
向下照射–采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合粉末压片样品。
样品自旋–具有样品自旋装置，消除了压片样品中由于特硬物质的存在而不易粉碎造成的样品不均匀性。
长期稳定–采用可变增益数字多道，有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能，具的长期稳定性。
环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。
使用方便–触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。
高可靠性–一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗力强，可靠性高。
高性价比–无需钢瓶气体，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。
技术
同标准型
校准
X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的含量计算式（即校准曲线）为：
C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）
式中，IC =f(I0)，I0为原始强度（即原始道计数率），IC为处理后强度（或修正后强度），D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）的系数。
用已知含量的某单位铝用碳素校准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。
表1.某单位铝用碳素校准样品校准结果数据（ppm）
| 元素 | Na | Si | S(%） | Ca | V | Fe | Ni |
| 系数D | -489.8 | -66.93 | -0.34 | -276.9 | -372.7 | -158.1 | -140.2 |
| 系数E | 0.9447 | 6.458 | 1.58 | 1.074 | 1.251 | 0.2932 | 0.854 |
| 系数F | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| 相关系数γ | 0.9612 | 0.9971 | 0.9956 | 0.9833 | 0.9977 | 0.9561 | 0.9742 |
这些校准曲线的相关系数γ 均大于0.95，表示DM2500光谱仪的线性误差极小。
重复性
对某单位铝用碳素样品中的某一样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。
表2.某单位铝用碳素样品重复性测量数据分析（ppm）
| 元素 | Na | Si | S(%） | Ca | V | Fe | Ni |
| 理论值 | 111.5 | 223 | 1.56 | 311.8 | 410 | 242 | 242 |
| 平均示值 | 105.80 | 225.36 | 1.55 | 312.52 | 412.91 | 232.61 | 235.02 |
| 示值 | 108.09 | 228.23 | 1.56 | 315.88 | 418.04 | 234.13 | 237.35 |
| 最小示值 | 102.4 | 223.19 | 1.54 | 310.3 | 410.69 | 231.48 | 233.87 |
| 极差 | 5.69 | 5.04 | 0.02 | 5.58 | 7.35 | 2.65 | 3.48 |
| 示值标准偏差 | 2.11 | 2.13 | 0.0071 | 2.21 | 3.01 | 0.96 | 1.41 |
| 3倍示值标准偏差（仪器重复性限） | 6.33 | 6.39 | 0.021 | 6.63 | 9.03 | 2.88 | 4.23 |
| GB/T176的重复性限 | 15 | 23 | 0.033 | 15 | 15 | 9 | 8 |
| YS/T63.16允许差 | 35 | 45 | 0.10 | 30 | 25 | 25 | 20 |
| DM2500与YS/T63.16的符合性 | 远优 | 远优 | 优 | 远优 | 优 | 远优 | 优 |
注：粉末压片样品。在X射线源为半功率（25W），测量时间为300s的条件下，连续进行11次测量所得的结果。
从上表可知：光谱仪的重复性限均小于行业标准YS/T63.16—2019《铝用碳素材料检测方法 第16部分：元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱分析方法》所要求的重复性限。所以，DM2500光谱仪可实现优异的重复性，满足YS/T63.16—2019有关重复性的要求。
主要技术指标
| 测量元素 | 可选择B(5)～Zn(30)中的任意元素 |
| X射线管 | 电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选） |
| 探测器 | SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：AP3.3 |
| 检测限（300s） | C：2.0%，N：1.0%，O：0.5%，F：0.15%， Na：30ppm，Mg：20ppm，Al：10ppm，Si/P/S/Cl：2.0ppm，K-Zn：3.0ppm |
| 测量范围 | 检测限的3倍～99.99%。 |
| 重复性限 | 满足几乎所有元素测定XRF光谱法标准的相关要求，如：GB/T 176—2017，GB/T3286.11-2022，GB/T4333.5-2016，YS/T63.16—2019，GB/T24198-2009等 |
| 系统测量时间 | 1～999s，推荐值为300s |
| 测量氛围 | 自充气系统或氦气 |
| 使用条件 | 环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W |
| 尺寸及重量 | 540mm×500mm×450mm，35kg |
注：检出限与样品基体有关。
