平面光学元件光谱分析仪QSP-3000
用途：
QSP-3000是一套全波长的光谱分析仪，用于快速测量各类平面光学元件的反射、
透射光谱，可进行多角度 反射率、相对反射率、透射率测量，偏振光测量，膜性测量，
颜色测量以及膜厚测量等。
特点：
1、CIE颜色测定：X Y色度图，x，y，L,a,b，饱和度，主波长等；
2、检测时间微毫秒级：高性能探测器，可在1秒时间内完成重现性高的测定；
3、多角度测量：可自由设定多角度 透反射率测量；
4、膜厚测量：可根据光谱曲线带入材料折射率计算出单多次膜厚。
技术规格：
波长：380~1100nm
误差 lt;0.2%（400~1000nm）
单次测量：＜1秒
信噪比：1000:1
波长分辨率：1nm
角度分辨率：0.0002°
操作方式：全自动
重复定位精度 lt;0.005°
旋转 速度：25°/s
透射测量角度：0~80°（小样品0-50°）
反射测量角度：5~80°
S/P光测量：支持
光斑：Φ2-Φ5mm可调
外观尺寸：620*420*370mm
光源：稳压电源，风冷1"可聚焦收集棱镜, UV保护镀铝反射镜；尺寸：260mmX 100mm X 200mm；输入电压：220 VAC；输入频率：50Hz；工作范围：0 to 50 °C；类型：恒定直流电流；直流电压：12V； 电流 ：12.5A；功率输入：100w；色温：3200K
样品尺寸：5x5 mm～100x100mm
软件：SpecSetup光谱分析软件1套(可任意任意段波长计算出平均透过率；可任意波段内定其上下限自动判断产品是否合格；可按CIE标准色度计算出x、y、L、a、b值等，开放式数据库、可任意添加用户需求的产品数据、可根据光谱曲线带入材料折射率计算出单多次膜厚，可按用户要求定制报表。)
