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OEM定制化光谱仪(提供给光谱分析仪器制造商)

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称HORIBA科学仪器事业部
  • 品       牌
  • 型       号VS7000+
  • 所  在  地国外
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/2/3 15:08:57
  • 访问次数51
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HORIBA 科学仪器事业部(HORIBA Scientific)隶属 HORIBA 集团,致力于为用户提供*的检测和分析仪器:包括元素分析、荧光、刑侦、ICP、粒度表征、激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。

结合旗下的技术优势,包括拥有200多年发展历史的光谱制造技术Jobin Yvon,以及拥有*技术优势的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天,HORIBA Scientific 的各种检测分析仪器已经遍布各地,并在中国实现了销售和服务的本土化,位于上海、北京、广州三地的产品专家、售后服务团队以及全国各地的代理商机构可充分保障国内用户的技术咨询以及售后服务需求。

HORIBA欧洲总部 自从1988年合并了美国SPEX公司和1995年合并了法国Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大仪器制造集团――HORIBA公司,完成了公司强强联手。如今Jobin Yvon在法国、美国、日本、英国、意大利、荷兰设有生产厂家,其分支机构遍布。现在Jobin Yvon公司除了提供各种类型的衍射光栅和离子刻蚀全息光栅外,还提供各种类型的光谱仪产品,如:激光拉曼光谱仪(Raman),荧光(寿命)光谱仪(FL),直读火花光谱仪(SPARK),电感耦合等离子发射光谱仪(ICP),辉光放电光谱仪(GDS),椭圆偏振光谱仪(Ellipsometry),特殊搭建系统(System)及各种光学光谱器件(成像光谱仪,光源,IR检测器,CCD检测器等)。 目前,HORIBA Jobin Yvon公司设立了薄膜部、拉曼(光谱仪)部、发射(光谱仪)部、荧光(光谱仪)部、法医部、光学仪器部、光栅&OEM仪器部等7个部门。旨在为您提供强大的技术支持与科研保障!
OEM定制化光谱仪VS7000+产品简介:
VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光谱分析仪器制造商的OEM光谱仪产品。搭配不同的光栅、滤光片和探测器,可以满足不同应用的性能需求,实现仪器产品性能的*化和差异化。
OEM定制化光谱仪(提供给光谱分析仪器制造商) 产品信息

产品简介
    VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身,面向光谱分析仪器制造商的OEM光谱仪产品。搭配不同的光栅、滤光片和探测器,可以满足不同应用的性能需求,实现仪器产品性能的*化和差异化。
    VS7000+标配HORIBA Jobin Yvon的4型消像差平像场光栅、高量子效率背照射CCD。峰值量子效率高于75%、动态范围zui高达7000:1、光谱范围覆盖紫外、可见、近红外,能满足大多数光学光谱仪器的使用要求,特别适合用低感光下的精密光谱分析应用。另有多种定制化方案可满足更多应用需求。
    HORIBA Jobin Yvon 真正OEM定制化解决方案,兼顾性能*化和差异化,适合仪器开发和量产。

 
应用领域
• 生化医疗
• 荧光光谱
• 液相色谱
• 透射反射光谱
• LED光源检测
• 水质气体分析
• 便携式拉曼开发
• 食品近红外光谱分析

技术特点
• 高光通量(f/2.8)
• 超低杂散光
• 主流光谱范围:紫外-可见(200nm~860nm)、可见(380nm~750nm)、紫外-可见(200nm~1050nm)
• 高灵敏度,适合荧光、发射、吸收和反射等光谱应用
• 采用高性能背照射CCD探测器,优于市场上正照射和低成本背照射CCD

特征 描述
覆盖常用的紫外-可见光谱范围 拥有*对称峰型的小型光栅光谱仪
读出速度快 zui快达4.5ms
*的电路技术 低噪音、高线性度(原始数据)和线性校正(板载)
背照射线性CCD QE=63%(250nm处);70%(650nm处);55%(850nm处)
高性噪比 在非制冷CCD光谱仪中拥有zui高的性噪比
USB2.0接口 与电脑连接的标准USB接口,保证了100%数据完整性
高阶滤光片 消除二级衍射 
数据采集软件/LabViewTMCVls/DLLs可  用 可方便地将VS-7000+集成到您的系统中
单片光栅光路设计 采用单片消像差4型凹面平像场光栅,拥有*的分光纯度
无运动部件或快门 使OEM集成具备了佳的可靠性

 
HORIBA Jobin Yvon4型消像差平像场光栅,*匹配阵列探测器。

单片光栅光路设计,实现高光通量、低杂散光、高稳定性。


采用高性能背照射CCD或CMOS探测器,高量子效率、高采集速率。


S10420理论量子效率曲线

参数规格
对光谱分析应用,VS-7000+采用改进型的VS70光学设计对UV-VIS进行优化

光谱范围 紫外-可见(200nm~860nm):采用250nm处优化的光栅,内置高阶滤光片
可见(380nm~750nm):采用可见光谱闪耀的光栅,内置长通滤光片
紫外-可见-近红外(200nm~1050nm):采用紫外可见双闪耀光栅,内置高阶滤光片
数值孔径 f/2.8
杂散光抑制
典型(zui大)
0.04%(0.08%),配置300μm高紫外-可见型CCD
(采用510nm宽带滤光片,75μm宽狭缝进行测量)
>2.4 AU线性范围(5%误差),采用氘灯和10mm比色皿,测量在273nm处的吸收
CCD探测器典型量子效率 高性能背照射CCD,紫外波段的量子效率高达65%,近红外消etaloning效应
探测器高度和光纤参数 CCD感光面高300μm(另有1mm可选)
适配600μm芯径,1.5m长的光纤(对1mm高CCD*800μm~1000μm芯径光纤)
热电稳定性 暗电流和CCD模式噪声需扣除,操作者需关闭光源或在光路上安装快门
探测器量子效率会随温度变化有微小变化
光谱分辨率
像素分辨率
狭缝(出厂配置)

 
紫外-可见:在75μm狭缝、2048像元下,分辨率为2.7nm;
0.33nm/像元(配置300μm高CCD)
可选狭缝宽度:12、25、37、50、62、75、100、125、150、200μm(如需其他狭缝规格,请与我们)
改进的CCD满阱容量
原始非线性度
工厂校正的非线性度
>250ke-(灵敏模式)   >450ke-(高满阱模式)
 <1%(灵敏模式)  <3%(高满阱模式)
<0.4%(灵敏模式)  <0.8%(高满阱模式)
读出速度 8.6ms(500kHz 模式),116spectra/s(多道采集模式,零曝光时间)
zui快:4.5ms(超快模式),223spectra/s(多道采集模式,零曝光时间)
典型暗电流 2.8counts/ms (20℃),典型偏移 = 1000 counts
典型读出噪声 在灵敏模式下35e-(zui大45e-) 在高满阱模式下75e-(zui大90e-
A/D转换 16bit,500kHz
典型动态范围 7000:1(灵敏模式),6000:1(高满阱模式)
典型信噪比 500:1(灵敏模式)至700:1(高满阱模式),在散粒噪声受限的条件下
增益选择 4e-/count 和8e-/count

注:参数,外形和光谱范围如有更改,恕不另行通知。
 
采集软件
包括(LabVIEWTM 2011版)

• 为用户编程提供VIs和上层代码
• 可访问CCD原始线性数据和校正线性数据,出厂前对每个CCD芯片做校正
• CCD设置和暗噪声扣除
• 板载(on-board)或者软件平均
• 吸收和透射计算
• 像素、波长和波数三种标度选择
• 板载(on-board)光谱校准
• 线性校正开关
• Boxcar平均
• 数据保存支持Excel或Txt格式
注:运行自带软件无需LabView许可证,编辑代码需要2011版LabView许可证,HORIBA Jobin Yvon不提供代码编写的。

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