蔡司西格玛家族
蔡司SIGMA FE-SEM用于高质量成像和高级分析显微镜
蔡司Sigma 300具有**的价格和性能。借助ZEISS Sigma 500一*的EDS几何结构，可以快速，方便地完成元素分析。依靠精确，可重复的结果–每次都能从任何样品中获得结果。
灵活的检测4步骤工作流程，高级分析
将场发射SEM(FE-SEM)技术与分析相结合。受益于久经考验的双子座电子光学器件。从多种检测器选项中进行选择：材料科学中的图像颗粒，表面和纳米结构，研究半导体或医疗设备，地质或生物样品。Sigma的半自动4步工作流程可节省时间：结构化成像和分析程序并提高生产率。研究和工业实验室中所有学科的FE-SEM用户现在都受益于ZEISS Sigma 500在1 kV下1.3 nm的分辨率和更好的可用性。
灵活检测清晰图像
使用*新的检测技术根据您的需求定制Sigma，并对所有样品进行表征。
使用环形背向散射检测器(aBSD)表征成分，晶体学和表面形貌。在所有真空条件下，它都能提供出色的低kV图像。受益于更高的灵敏度，更高的信噪比和更快的速度。
享受新一代的二次电子(SE)检测器。在可变压力模式下受益于Sigma的C2D和VPSE检测器：在低真空下工作，您可以得到清晰的图像，对比度*高可提高85%。
自动化并加快工作流程
4个步骤的工作流程使您可以控制Sigma的所有功能。受益于快速的成像时间并节省了培训时间-尤其是在多用户环境中。
首先，浏览样品，然后设置*佳成像条件。
接下来，利用感兴趣区域(ROI)自动获取多个样本中的图像。最后，使用工作流程的步对结果进行上下文可视化。
最后，SmartSEM Touch收集并以交互式地图的形式显示您的数据，以便您可以理解样品。
执行高级分析显微镜
结合扫描电子显微镜和元素分析：Sigma一*的EDS几何形状可提高您的分析效率，尤其是在对光束敏感的样品上。
以一半的探针电流和两倍的速度获得分析数据。
在您的FE-SEM中实现完整，无阴影的分析。使用8.5 mm的短分析工作距离和35°的起飞角，可从中获利。
基于成熟的双子座技术
Gemini物镜的设计结合了静电和磁场，以*大限度地提高光学性能，同时将对样品的电场影响降至*低。即使在具有挑战性的样品(例如磁性材料)上，也可以实现出色的成像。
Gemini Inlens检测概念可通过检测二次(SE)和/或背向散射(BSE)电子来*大程度地缩短成像时间，从而确保有效的信号检测。
Gemini光束增强器技术可确保探头尺寸小和信噪比高。
灵活检测清晰图像
使用的检测技术表征所有样品。
使用ETSE和Inlens检测器获得高真空模式的地形，高分辨率信息。
使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰的图像。
使用aSTEM检测器产生高分辨率的透射图像。
使用aBSD检测器研究成分和形貌。
借助新的自动摆动功能，轻松快速地对准光圈。
SmartEDX
发现嵌入式能量色散X射线光谱分析
如果仅凭SEM成像不足以了解您的样品，则可以使用嵌入式EDS在SEM中进行微分析。使用针对低压应用优化的解决方案来获取空间解析的元素化学信息。
氮化硅窗口具有出色的透射率，可优化常规微分析应用并检测轻元素的低能X射线
工作流引导的图形用户界面提高了多用户环境中的易用性和可重复性
蔡司工程师提供的全面服务和系统支持为您提供一站式安装，预防性维护和保修服务
拉曼成像和扫描电子显微镜
全面集成RISE的好处
补充材料的表征并添加拉曼光谱成像。从样品中获得化学指纹，并通过共焦拉曼成像功能扩展蔡司Sigma 300。
识别分子和晶体学信息
进行3D分析并将SEM成像与拉曼映射和EDS数据关联起来(如果适用)
集成的RISE使您可以利用一*的SEM和拉曼系统
