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测镀层X荧光光谱仪 规格:
1.元素分析范围:硫-铀(S-U)
2.元素含量分析范围:1PPM~99.99%
3.zui低检出限:1PPM
4.镀层检验厚度:0.005-50μm(视材料类型而有所不同)
5.样品腔尺寸:150*120*50(MM)
测镀层X荧光光谱仪 应用领域:
镀层成分分析
镀层厚度分析
镀层环保检测
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