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X-4 显微熔点仪特点:测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。X-4 显微熔点仪主要技术参数:熔点测量范围:室温至320℃ 测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) 温度显示zui小值: 1℃
熔点观察方式单目显微镜
光学放大倍数 40×
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