WITec公司的alpha300 A原子力显微镜基于研究级光学显微镜而设计，是一款可靠、的纳米成像系统，同时具有的光学接入、简易悬臂定位与原子级高分辨率。采用高精度陶瓷扫描台及样品台扫描方式，AFM探针获得样品表面形貌图像。
该AFM采用光学显微镜配备相机，有助于高分辨率的样品挑选与测量。同时观测样品与AFM探针非常有利于样品定位及扫描区域调整。光学显微镜可实现更多的照明及检测方式，如明暗场，偏光分析及宽场荧光等， 用户可以进一步挑选感兴趣的样品区域。用户只需旋转物镜转盘，就可以在AFM与光学显微镜之间轻松切换，依旧保留光学显微镜与AFM性能。
关键特性
纳米尺度的表面表征
横向分辨率：低至1 nm
深度分辨率：< 0.3 nm
包含多种AFM模式
在空气与液体中均可使用
的悬臂技术，方便的悬臂交换和对准
精确的TrueScan™控制扫描台：可选择的扫描范围30 x 30 x 20µm³;100 x 100 x 20µm³;或200 x 200 x 20µm³
非破坏性的成像技术
共焦拉曼成像和近场 (SNOM)可在一台显微镜上进行升级
应用实例
FM topography image of a fully developed Magnetic Force Measurement of PC Digital Pulsed Force Mode image of
sternal deposit from a woodlouse (P. scaber). Hard Drive. The measurements were ossilized bacteria. The image shows
performed using AC mode technique the different adhesion levels of the
with magnetic tips. sample surface.
AFM模式
接触模式
样品扫描时域探针直接接触，通过悬臂梁的倾斜及角度来记录表面形貌
AC（TappingTM 轻敲）模式（又称间歇接触模式）
抬高模式（Lift ModeTM）
数字脉冲力模式（DPFM）
磁力显微镜（MFM）
测量样品上磁场的一种非接触模式
静电力显微镜
测量静电力显微镜的一种非接触模式
记录并描绘间歇（轻敲）
模式中的相位偏移信号
纳米操纵/压印
开尔文探针显微镜
表面势测量
横向力显微镜（LFM）
揭示表面摩擦特性的一种接触模式
化学力显微镜（CFM）
测量范德华力等化学相互作用的接触或间歇模式
其他模式可选
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