2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。
为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为：
1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受；
2) 四级聚光镜设计：为了发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制；
3）扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS；
4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动；
5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性；
6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析；
7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度；
8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。
