CMI760
桌上型铜厚测量仪
CMI760可用于测量表面铜和孔内镀铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和孔内镀铜厚度准确和精确的测量。
CMI760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。
CMI760具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。
SRP-4探头：SRP系列探头应用*的微电阻测试技术。测量时，通过厚度值与电阻值的函数关系准确可靠地得出厚度值，而不受绝缘板层厚度或印刷电路板背面铜层影响。可由用户自行替换探针的SRP-4探头为牛津仪器产品。耗损的探针能在现场迅速、简便地更换，将停机时间缩至zui短。更换探针模块远比更换整个探头经济。
安柏来科学仪器（上海）有限公司 成立于上海，在苏州、深圳、成都设有销售及服务点。
业务涉及
仪器设备事业：科学仪器、检测工具、实验室设备、工业自动化；
材料事业：工业材料、实验室耗材
实验室及生产线集成事业：QA/QC实验室整体方案、电镀代加工、电镀废水中贵金属回收再利用。
有能力为客户提供：售前应用评估及测试、售后技术支持、设备维护保养及校验、标准样品及零部件供应、标准样品再认证（ISO17025）、备用设备租赁。
产品包括但不局限于：X射线荧光（XRF）、电子显微镜、能谱仪、白光干涉膜厚测量、磁感应及涡流、超声、原子吸收（AAS）、原子力显微镜（AFM）、实验室模拟系统、三座标、二次元、自动色差测量平台……满足客户的QA/QC及R&D测试需求。
代理的品牌来自德国、英国、美国、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不断完善的产品解决方案、专业的技术眼光、高效率的运营、客户为先的理念，我们追求与客户*稳定的配合、致力于成为客户的技术采购合作伙伴。
非接触式3D轮廓仪，白光干涉膜厚仪，XRF镀层测厚仪，表面铜厚和孔内铜厚测量仪，手持式XRF光谱仪
牛津仪器CMI760桌上型铜厚测量仪 产品信息
