X荧光光谱仪EDX1800B主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有定的关系，据此，可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。
产品介绍
X荧光光谱仪EDX1800B测试ROHS主要针对欧盟指令中重金属检测的仪器，天瑞仪器针对X荧光光谱仪ROHS测试EDX1800X在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B荧光ROHS测试仪。应用新代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
优点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但般都很短，10～300秒就可以测完样品中的部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同试样可反复多次测量，结果重现性好。d) X射线荧光分析是种物理分析方法，所以对在化学性质上属同族的元素也能进行分析。e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
移动样品平台
信噪比增强器
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
应用领域
X荧光光谱仪RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
厂家介绍
天瑞仪器股份有限公司是专业生产ROHS检测仪，镀层测厚仪，气相色谱质谱联用仪（GCMS）,ICP电感耦合等离子体光谱仪，原子荧光光谱仪，x射线测厚仪，ROHS检测设备，X射线镀层测厚仪，，ROHS检测仪，液相色谱仪，手持式，原子吸收光谱仪，X射线荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， 液相色谱质谱仪（LCMS）,ROHS仪器等分析仪器，涉及的仪器设备主要有EDX1800B、Thick800A、ICP2060T、GCMS6800、AAS 9000、AAS 6000等。
