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广电计量检测集团股份有限公司

意大利TECHiMP PEA空间电荷测量设备

参考价 ¥ 150000
订货量 ≥5
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京康高特仪器设备有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质代理商
  • 更新时间2025/5/27 14:36:27
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北京康高特仪器设备有限公司始于2008年,初期仅做便携式进口仪器的代理经销业务, 随着公司规模与实力的增长,康高特逐步转型,如今是一家集研发、代理、销售、检测、租赁 和维修于一体的综合性便携式仪器服务企业。康高特业务涉及电力、疾控卫生、轨道交通、石 油石化、环保、生产制造、水质监测、漏水检测等领域,目前拥有20多个国际有名品牌在华的代理权,具有电缆故障定位仪、SF6综合检测仪、露点仪、绝缘电阻测试 仪、回路电阻测试仪等多款自研产品,并拥有货值亿元的现货储备。   

成立至今康高特为国家电网、南方电网、全国各省市疾控中心、各地市环保局、中国核 电、中石油、各大发电集团、各省市地铁等众多机构通过直接或支持经销商的方式提供了 优质的产品和服务,并和ABB、西门子、BMW、保时捷等众多有名企业保持着紧密的合作关系。   

截至目前,康高特在电子测量仪器领域是拥有代理品牌数量最多的公司,其中不乏英国 MEGGER、奥地利OMICRON、白俄罗斯ATOMTEX等全球优秀品牌。通过多年的 耕耘,康高特在电子测量仪器行业销售业绩位列国内前五,在不同的业务领域都获得了一席之 地,企业服务得到了合作伙伴的广泛认可。   

康高特在探寻全球好仪器的同时,更加快了核心产品国产化的步伐。从最初的与国内优质 生产厂商合作,到如今自主品牌产品的研发生产,康高特始终秉持着优质服务、互利共赢的经 营理念。康高特利用多年来积累的国外资源渠道,努力将“中国制造”推向国际市场,力争在 中国市场与国际市场之间搭建起一个坚固的贸易纽带。

 

 

 

核辐射检测仪,X射线检测仪,辐射防护服,xγ剂量计,表面沾污仪,电缆测试仪,局部放电测试仪,变压器综合测试仪,拉曼光谱仪,水质检测仪
方法原理 脉冲电声分析 检测维度 一维空间电荷分布分析
电场类型 支持直流或交流 脉冲 / 高压直流发生器 可根据客户需求定制
数据处理 计算可视化参数
意大利TECHiMP PEA空间电荷测量设备,本产品用于高压直流元件绝缘材料的研究,可在直流或交流电场下进行空间电荷测量,适用于生成频率和幅度受控的电压,被各地的电缆制造商、研究机构和大学的许多研究实验室使用。
意大利TECHiMP PEA空间电荷测量设备 产品信息

意大利TECHiMP PEA空间电荷测量设备,本产品用于高压直流元件绝缘材料的研究,可在直流或交流电场下进行空间电荷测量,适用于生成频率和幅度受控的电压,被各地的电缆制造商、研究机构和大学的许多研究实验室使用。

意大利TECHiMP PEA空间电荷测量设备

意大利TECHiMP PEA空间电荷测量设备产品简介:

•脉冲电声(PEA)方法是一种无损空间电荷测量技术。它用于描述聚合物绝缘材料内部的空间电荷分布、聚集及其整体行为

•空间电荷观测正在成为直流绝缘应用中*广泛使用的评估聚合物材料的技术,特别是高压电缆。
•脉冲电声分析(PEA)可用于直流或交流电场下的空间电荷测量。

•PEA空间电荷测量设备是一种非破坏性技术,用于分析聚合材料中的空间电荷积累

•PEA空间电荷测量设备将一系列很短时间长度的高压脉冲施加到插入两个电极之间的绝缘样品上。每个脉冲产生用于驱散内部电荷的电力,并产生与每个电荷层相对于中性过量相对应的脉冲声压波。产生的压力脉冲由压电换能器检测,从而可以从换能器的输出电压获得被测样品中的电荷分布。空间电荷分布的分析*于一维。


PEA空间电荷测量设备优势:

•可根据客户要求输出脉冲/高压直流电压
•处理软件:*大电场-时间特性,极化和去极化下电荷与时间的关系等。
•客户友好的人机界面:*存储电荷密度与极化时间、陷阱控制的移动性等。


产品参数

类别参数项具体信息
核心技术测量方法脉冲电声分析(PEA),非破坏性一维空间电荷分布检测

适用电场类型直流(dc)、交流(ac)
硬件配置脉冲 / 高压直流发生器可按需提供(未明确电压范围、脉冲频率等具体参数)

传感器类型压电传感器(用于捕捉声压波信号,未提及灵敏度、频率响应范围)
软件功能数据处理功能- 生成电场 - 时间特性、电荷 - 时间关系(极化 / 去极化)
- 计算电荷密度 - 极化时间、陷阱控制迁移率

人机界面(HMI)客户友好设计,支持电荷分布图谱可视化
适用范围检测对象高压电缆、平面绝缘试样(聚合物材料)

应用场景绝缘老化诊断、新型材料研发(如直流电缆绝缘评估)
技术特性破坏性非破坏性(可重复测试)

技术起源1985 年由 T.Takada 等人提出,TECHIMP 优化用于工业检测


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