激光原位分析仪
将激光诱导击穿光谱分析技术（LIBS）和原位统计分布分析技术（OPA）*结合的，为材料成分分析，缺陷分析，涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。可用于航kong航天、汽车、高铁、冶金、科研院所、质检中心等。
仪器特点:
⊙ 多元素同时分析。28 个元素通道，包含 C，P，S 元素，
线性关系良好。
⊙ 预剥蚀时间，积分时间，门控延迟时间动态可调。
⊙ 分析简便、快速，无前处理过程，避免样品被污染。
⊙ 分析不受样品尺寸，状态，导电性，难熔与否的影响。
⊙ LIBS 具有高灵敏度与高空间分辨率，非常适合涂层材料、
薄膜材料分析。
⊙ 微小烧蚀光斑可进行局部微区分析，表面微损分析，适合材料
缺陷分析。
⊙ 非接触测量，响应迅速，分析时间短，可满足实时分析以及在
线分析的要求。
激光原位分析仪
仪器参数:
激光光源
⊙ Continuum SureliteTM III － 10 YAG 激光器
真空光学系统
⊙ 帕邢—龙格架法，光栅焦距 750 mm
⊙ 高发光全息光栅，刻线为 2400 条 /mm
⊙ 谱线范围：170 ~ 800 nm
⊙ 色散率：一级色散率：0.55 nm/mm
二级色散率：0.275 nm/mm
⊙ 分辨率：优于 0.01 nm
检测系统
⊙ 光电转换系统
⊙ 瞬态信号前端处理电路
⊙ 数字信号采集识别和解析系统
⊙ 多线程的数据采集方式
⊙ 样品扫描定位系统
⊙ 三维工作台
⊙ CCD 成像系统：联合数控工作台实现样品的定位和观察
⊙电源要求：220V/20A
⊙外形尺寸：1500 mm×750 mm×1600 mm（宽 × 深 × 高）
⊙重 量：毛重约 700 Kg
