美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
产品特色∶
1. *能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。
2. 超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品
质。
质。
4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种
5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承zui长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div>
6. 具有表面相对等距自动调整系统
7. 采用自然光，LED白光，无色差
8. 采用高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9. 具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
基本规格：
| X射线发生部 | 电压 | zui大50kV，多段电压切换 |
| 电流 | 4-1000μA，可做自动调整设定 | |
| 准直器 | 共五个 | |
| 侦测器 | Pin or Si | |
| 检测器 | 冷却方式 | 电子冷却 |
| 五种滤波器自动切换 | | |
| 电源 | AC110~240V, 50/60 Hz | |
应用领域：
| 镀层厚度分析 |
| （1）分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。 |
其他型号：
薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:*能提供NIST標準樣品，快速（60秒內）非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備（In-Situ） SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統（In-Line） SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。
（）
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN（）
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN（）
SMX-FPV（）
生產製程專用模組 SMX-FPV（）
即時監測設備（In-Situ） SMX-ISI 、產線自動檢測系統（In-Line） SMX-ILH（）
