天瑞的ROHS仪器XRF怎么样
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X 射线荧光分析技术( XRF ,又称 X 射线荧光光谱仪)作为一种快速分析手段, 为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(例如:发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等), XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。
X 射线荧光分析技术可以分为两大类型:能量色散 X 射线荧光分析( EDXRF ,以下我们简称能量色散)和波长色散 X 射线荧光分析(WDXRF,以下我们简称波长色散);而能量色散型又根据探测器的类型分为( Si-PIN )型和 SDD 型。在不同的应用条件下,这几种类型的技术各有其突出的特点;以下将针对欧盟 ROHS & WEEE 指令的具体应用情况,对能量色散和波长色散进行比较和说明:
仪器类型 | 探测器 | 测量精度 | 测量时间 | 被测样品要求 |
能量色散XRF | ( Si-PIN )型 | 20--50ppm | 1--3分钟 | 可以不规则形状 |
波长色散XRF | (SDD )型 | 200--300ppm | 4--6 分钟 | 形状需要制样 |
仪器类型 | 被测元素 | 荧光强度 | 技术复杂程度 | 使用寿命 |
能量色散XRF | S-U(纳优) | 高 | 复杂 | > 10 年 |
波长色散XRF | 重元素 | 低 | 简单 | > 5 年 |
1 、测量精度: 尽管目前各家能量色散仪器(均为 Si-PIN 类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标,但在实际应用中(特别在被测样品不进行处理的情况下),真正可以期待的准确度都在 200~300ppm 之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差);同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别(基本配置),但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散测量准确度比能量色散类型要高一个数量级,基本在 20~50ppm 左右。
2 、测量时间: 由于波长色散配备较大功率的 X 光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时间,便能达到较高的测量精度。
3 、被测量样品的要求: 由于技术特点的差异,波长色散需要对被测量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器zui大的优势在于:可以对样品不作特别复杂的处理而直接进行测量,对样品也没有任何损坏,适合直接用于生产的过程控制中;但需要强调指出的是:从荧光理论上讲,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。