高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。 精密稳定的高压电源：采用工业级X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管：采用W/Rh靶X射线管，*高速风扇制冷，设计寿命5万小时。
高像素摄像头：内置高清摄像头以及微动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
*的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置*防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。
采用新型滤光片：有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。*光学准直器，光束zui小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
*的光谱分析方法：紧跟zui前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了*复杂的计算、校正算法，zui大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1%以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10%以内。
技术指标：
1．外壳尺寸: 630mm×440mm×380mm
2．测量窗尺寸: 130mm×260mm×110mm
3．重量: 约40Kg
4. 适宜温度: 5-30℃
5. 相对湿度: ≤80%
6. 元素分析范围: 钾（K）到铀（U）
7. 含量分析范围: 为2 PPm到99.99%
8. 测量时间: 60-300秒（任意调整）
9. 分辨率: 186eV FWHM@5.9KeV
10. 电源: 交流220V±5V或110V±5V
11. 电源频率: 47-63 Hz
12. 高压输入: +24V dc+-10%,4.0A（zui大）
13. 高压输出: 0-50KV@1mA zui大功率50W
14．CCD光学镜头
15．有分析、显示、打印等功能
