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广州兰泰仪器
产品型号: CM-8826
(分体化传感器涂层测厚仪)
功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度
测量方法:F 磁感应 NF 涡流
测量范围:0-1250um/0-50mil (标准量程)
Z小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
分辨率:0.1/1
Z薄基底:0.3mm
铁基涂层测厚仪 |
涂层测厚仪CM-8826 |
详细图片 |
产品简介 产品型号: CM-8826 功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 测量方法:F 磁感应 NF 涡流 测量范围:0-1250um/0-50mil (标准量程) zui小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 分辨率:0.1/1 zui薄基底:0.3mm 自动关机 使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 准确度:±(1-3%n)或±2.5um 公制/英制:可选择 电源:4节7号电池 电池电压指示:低电压提示 外形尺寸:126X65X27mm 重量:81g(不含电池) 可选附件:(点击链接) |
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