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bowman X-RAY膜厚仪

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产品型号BA100

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更新时间：2017-03-25 07:34:29浏览次数：294次

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产品简介

bowman X-RAY膜厚仪
新款BOWMAN X-Ray BA100是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。

详细介绍

bowman X-RAY膜厚仪
新款BOWMAN X-Ray BA100是一台款现代化桌上X射线光谱仪（EDXRF）。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。BA100测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨半导体接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素铝到92号元素镭的所有元素都能准确测定。无论您想测量未知样品还是测定未知材料，BA100配合优异的运行软件都是您正确的选择。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
*的稳定性和出色的精确度——对于金优于1‰——是 BA100的优势所在。而且，由于不需要经常进行再校准，从而节省了使用者的时间、精力及经营成本。测量结果可以以Karat，‰ 或重量%显示.并且可以按客户报表打印输出。
优秀的人体学设计，简单的操作即测量结果的快速计算是对BA 100的描述。使用安全而简单——无论是对经验丰富还是接受较少培训的员工都是如此。不需要为BA 100、特别设置一个实验室房间。如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。
为个人计算机而设计的测试软件
*的软件有着的性能：完整、简单易用而且不需要补充模块或是软件升级。
软件包括：
X射线部件的操作
?   控制整个测量过程
?   *的基本参数法可进行无标准片测量
?   用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量
?   可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度
?   按照元素波峰进行自动元素识别
?   测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
?   客户自定义报表工具
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