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电子薄膜应力分布测试仪

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产品型号HD-65

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地北京市

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更新时间:2022-07-12 14:53:44浏览次数:669次

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经营模式:生产厂家

商铺产品:102条

所在地区:北京北京市

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产品简介

电子薄膜应力分布测试仪产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、基片曲率

半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。

仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力

详细介绍

产品名称:电子薄膜应力分布测试仪 
规格型号:HD-65

:

 

电子薄膜应力分布测试仪产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、基片曲率

半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。

仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。

产品特点

 

*的错位相移技术

计算机自动条纹处理

测试过程全自动

*的曲面补偿测试原理

 

主要技术指标

 

zui大样品尺寸

≤100mm (4英寸)

曲率范围

|R|≥5米

测试精度

5%

单片测量时间

3分钟/片

结果类型

面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格

图形显示功能

三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示

电源

AC 220V±10%, 50Hz±5%

zui大功耗

100W

外型尺寸(L×W×H)

285mm×680mm×450mm

重量

36kg

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