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深圳市鼎极天电子有限公司
BA-100 X射线荧光毛细管镀层测厚仪 O系列采用u-Spot,多导毛细管技术可以测量很薄的样品,仪器使用高能量的X射线光束,配合大窗口SDD探测器,实现可测量很小的测量斑点,测量高速,精准、稳定。
美国博曼(Bowman)BA-100系列 BA-100 X射线荧光毛细管镀层测厚仪 O系列
美国博曼(Bowman) BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪;为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。
仪器型号:BA-100-O-OPT
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA100 Optics机型是研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。*长寿命的射线管灯丝
*的预热和ISO温度适应程序
多孔毛细管聚焦光学结构
显著提高X射线信号强度
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
小于100um直径的测量斑点
经过验证,接近*的测量精度
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