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目录:北京海富达科技有限公司>>仪器仪表>> 光学膜层厚度测量控制仪 型号:CNYY6-CDNY-03AM库号：M398210

光学膜层厚度测量控制仪 型号:CNYY6-CDNY-03AM库号：M398210
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  • 光学膜层厚度测量控制仪 型号:CNYY6-CDNY-03AM库号：M398210
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更新时间：2022-07-12 14:53:44浏览次数：343评价

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产品简介

CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有*的抑制能力。

详细介绍

主要性能指标及技术指标

主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz（折合到输入端）
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：

信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围:≥320。

 

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