三箱冷热冲击箱的半导体器件如何选择
阅读：369发布时间：2015-12-17
一般来说，电负载和机械负载是影响受试设备应力的主要组成部分，因此在试验方案中必须慎重规定。电负载要考虑阻抗形式，容许误差和瞬变过程；机械负载要明确是静态的还是动态的。在规定受试设备的实际功率输出时，必须同时规定负载条件。冷热冲击试验箱在试验过程中必须严格遵守对负载条件的有关规定。各种电子设备的负载条件是不一样的：例如，元线电引爆装置的负载与通信电台负载不一样；医疗用*电子部分的负载条件与一般仪器仪表的负载条件不一样。就拿通信设备来说，有的负载条件是500，有的则是600n，等等。在制定设备试验方案时，都要视设备的具体要求在试验方案中作出具体规定。
由于工艺不断发展、应用日益广泛、大规模生产的经济性，使得分立半导体器件的产量很大。根据小功率或大功率、开关时间、极间电容、正向电流等电气特性，有各种功能器件可供设计人员选择。此外，根据器件材料及其物理结构，半导体器件亦有若干类。我国将半导体器件分为8 大类（组）。因为半导体器件品种繁多，应用广泛，对其在工程中的选择和应用，只能简述如下。
(1 ）应该采用我国有关半导体器件的国家标准和部颁标准。要特别注意标准中所规定的“额定值”或“zui大额定值”。在任何使用或试验条件下都不能超过这些值。
(2 ）选择半导体器件时，要充分考虑到器件在同类应用中的历史经验数据或可保证器件牢固、可靠应用的其他工程资料、数据。
(3 ）对功率较大的器件的类型特性要充分了解，以便于正确应用。
(4 ）应根据半导体器件类型特性和在工程中的具体应用适当选择半导体器件。更多有关各种器件的失效率请查阅有关文献。
