X-ray镀层测厚仪Thick800A_天瑞
Thick800A是专业生产供应可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
产品图片：
天瑞仪器THick800A 在电镀检测行业中， 具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X部分机型采用进口际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用金属厚度检测行业的款镀层测厚仪，它能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
Thick800A技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
Thick800A标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
X-ray镀层测厚仪Thick800A应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
