Olympus 45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过zui基本的培训，就可完成zui常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。
只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途zui广泛的测厚仪行列。
抵御恶劣环境的能力
简便操作的设计理念
Olympus45MG超声测厚仪技术参数：
| 测量 | 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的延迟到*个回波之间的时间间隔。 |
|---|---|---|
| 自动回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 | |
| 穿透涂层测量 （可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） | |
| 单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。 | |
| 厚度范围 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量zui全的范围需要使用单晶选项） | |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） | |
| 分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸） | |
| 探头频率范围 | 标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） | |
| 一般规格 | 操作温度范围 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈 | |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 | |
| 外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
| 重量 | 430.9克 | |
| 电源 | 3节AA电池/USB电源供应 | |
| 电池工作时间 | 3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时 | |
| 标准 | 设计符合EN15317标准 | |
| 显示 | 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 检波 | 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项） | |
| 输入/输出 | USB | 2.0从接口 |
| 存储卡 | zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡 | |
| 内置数据记录器（可选） | 数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
| 容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 | |
| 文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码 | |
| 文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 | |
| 报告 | 机载报告总结了数据统计和zui小值/zui大值 |
Olympus45MG超声测厚仪标准配置
Olympus45MG超声测厚仪软件选项
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