GCSTD-A/B2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪资料的详细资料：
介电常数测试仪及介质损耗测试仪
主要用途:
主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）
应用对象:
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究
电极规格
固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm
液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
粉体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM
其它规格：
1、 环境温度：0℃～+40℃；
2、相对湿度：<80％；
3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率：约25W；
5、净重：约7kg；
6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）
测量方法 可采用直接测量法和替代法两种。当采用直接测量法时，必须消除连接线和试样实具等分布参数 的影响。 测量电路的分布参数可用图4表示，图中Ls、Rs为与试样串联的连接线、夹具等的等效电感及 电阻，Cp、RP为与试样并联的连接线、夹具等的等效电容及电阻。当Ls、Rs很小,且可忽略时, 或当CP
9个电感规格：
电感No | 电感量 | 准确度% | Q值≥ | 分布电容约略值 | 谐振频率范围 MHz | 适合介电常数测试频率 | |
GCSTD/A/AI | GCSTD-B | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪资料
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