IEC 60068-2-5标准广泛用于电子电工产品的耐候性测试，主要是氙灯老化试验箱利用氙灯光源，来加速模拟材料和产品在大气环境下，因光照等因素的作用而产生的破坏。
一、光谱和辐照度
光谱的定义
该标准的4.3节指出光谱能量分布参照CIE 85，具体见表1。波长从280~3000nm总的辐照度为1120W/m2。
表1 光谱能量分布图
在执行标准时，应使用日光过滤片来过滤氙灯光源，实现该标准对光源的要求。日光过滤片是用来模拟户外直射太阳光常用的氙灯过滤系统，经日光过滤片过滤的氙灯光源，接近实际的户外光照环境，其光谱与太阳光光谱之间的比较如图1所示。因为780nm或800nm以上的红外光谱对于高分子材料的作用仅为热效应，在有黑板温度控制的条件下，红外光谱往往不被考虑。因此，新的光谱曲线一般仅描述紫外和可见光部分。
图1 带有日光过滤片的Q-SUN氙灯光谱和CIE 85标准太阳光光谱比较
辐照度设定
该标准的4.2节对试验箱中光谱的阐述为：地球表面的辐照度受太阳常数及大气层对其衰减和散射的影响，参照CIE 85，辐照度为1120w/m2。在标准的5.8节“试验设备"中也指出，辐照度应为1120 W/m2(1±10%)，光谱能量分布参照表1。因此该标准对辐照度的设定采用的是总辐照度的设定，即全光谱上的辐照度为1120w/m2。这种辐照度的定义没有考虑到不同波段光线对材料老化的差异性，即波长越短对材料的破坏力越强。新的标准中大多采用了点控制的方法，即采用340nm或420nm点控制，如ISO 4892-2：2013和ASTM G155—2013。考虑到IEC 60068-2-5：2010模拟的是户外直射太阳光，建议使用340nm点控制，推荐Daylight-B/B日光过滤片，而辐照度设定为0.60W/m2@340nm。
二、温度
标准的5.2节指出，箱体内的温度，不管是光照阶段还是黑暗阶段，都应符合程序A，B或C的要求。而且指出，在光照阶段，箱体内的温度应以1K/min的速率上升或下降。
标准的7.1节又指出，在程序A中，箱体内的温度应在光照阶段之前2h开始升温。在程序A和B的黑暗阶段，箱体内的温度应以大约1K/min的速率下降，并保持在25℃。
程序A的一个循环是24h，包括8h光照和16h黑暗，重复进行。程序B的一个循环也是24h，包括20h光照和4h黑暗，重复进行。程序C是持续光照。每个程序的光照时间，黑暗时间，温度要求如图2所示。
上述5.2节和7.1节中对温度上升或下降速率的描述，与图2中温度与时间的描述不符。如果按照5.2节和7.1节的要求，则在光照阶段直接设置为40°C，在黑暗阶段直接设置为25°C即可。
如果是按照图2中温度上升、下降与时间的关系，在Q-SUN氙灯老化试验箱中则可按图3的要求对温度进行设定。Q-SUN氙灯老化试验箱中具体的温度与时间的关系见表2(Procedure A)、表3(Procedure B)和表4(Procedure C)。
图2 测试程序A，B和C
图3 Q-SUN氙灯老化试验箱对温度的设定
表2 Q-SUN氙灯老化试验箱中温度与时间的关系
表3 Q-SUN氙灯老化试验箱中温度与时间的关系
表4 Q-SUN氙灯老化试验箱中温度与时间的关系
