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SB2204-智能化介质损耗测试仪

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所  在  地上海市

更新时间:2022-07-11 11:56:59浏览次数:651次

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 SB2204/3型智能化介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)的自动化仪器。可以在工频高电压下,现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)。与西林电容电桥相比,具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗*力强等优点。仪器内附标准电容器和升电压装置,在“内接”方式下使用,无需其它外接设备,便于携带。具有多种测量方式,可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。内附SF6标准电容器,tgδ<0.005%,受空气湿度影响小,矢量运算法结合移相、倒相法,抗干扰效果好;能有效地消除强烈的电场干扰对测量的影响,适用于500kV极其以下电站的强干扰现场试验。主要特点:高压短路和突然断电时,仪器能迅速切断高压,并发出警告信息;测量重复性好,电压线性好(测量准确度不受电压影响);一体化结构,重量适中,便于携带;大屏幕带背光中文液晶显示器信息提示操作,使用方便;仪器自带打印机,及时保存测试数据;高压电缆连接至试品,保障安全;仪器未接地报警,安全措施完备。工作原理:仪器测量线路包括一路标准回路和一路被试回路,标准回路由内置高稳定度标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由8031单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以万计的采样数据处理后进行矢量运算,分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值(Cx)和介质损耗角正切(tgδ),测量结果可靠。现场有干扰时,先利用移相、倒相法减小干扰的影响,再将被试回路测`得的电流Ix′与单独测得的干扰电流Id矢量相加,得到真正的测量电流Ix,进而得出正确的测量结果。由图3可见,可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品(正接法)时,“LV”(E)点接地;而测量接地试品(反接法)时,则“HV”点接地。

额定工作条件:温度0~40℃,相对湿度:30%~85%,供电电源220V±22V  50±1Hz

 
外形尺寸:440×330×400mm
重量:不大于23kg
功耗:不大于40VA
测量范围:介质损耗(tgδ) 0~1分辨率0.0001;电容量(Cx):zui小分辨率0.01pF
内接方式:试验电压试品电容量5kV 7.5kV 10kV  3pF~40000PF
1.5kV 2.25kV 3Kv  10pF~0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV  30pF~1.5μF
外接方式:“外接升压器”方式zui高试验电压10kV,“外接Cn”方式(外接高压、外接标准电容器)zui高试验电压由标准电容器和被试品决定(Umax=Imax/ωC)
标准回路zui大电流50mA(In=UωCn)被试回路zui大电流2A(Ix=UωCx)
内部升压器输出能力:输出电压额定输出电流5kV 7.5kV 10kV  100mA;1.5kV 2.25kV 3kV  300mA;0.5kV 0.75kV 1kV  500mA
基本测量误差:

测量内容
tgδ范围
电容量范围(Cx)
试品类型
基本误差
介质损
耗因数
tgδ
0~0.5
50pF~60000pF
非接地
±(1%读数+0.0005)
接地
±(1%读数+0.0010)
10pF~50pF或
60000pF以上
非接地
±(1%读数+0.0010)
接地
±(2%读数+0.002)
3pF~10pF
非接地
与接地
电容量
50pF以上
±(1%读数+1pF)
50pF以下
±(1%读数+2pF)

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