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磁卡识别卡双向反复弯扭试验机产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，柔性电子标签等卡的弯曲和扭曲性能测试。
结构及功能：该设备采用弯曲和扭曲两种模式，采用PLC控制，触摸屏操作，试验次数可设置，达到试验次数自动停机，试验结束后，检查卡是否有可测试的功能。
磁卡识别卡双向反复弯扭试验机本产品适用于轨道交通卡、银行磁卡、医疗保险卡、智能卡、地铁卡、通讯卡、公交卡、会员卡等系列磁卡的反复弯曲扭转试验，主要用于大专院校、科研单位、质量检测中心、企业单位品质检测部门、实验室等磁卡的物理力学性能、工艺性能的测试和分板研究，深受广大用户青睐。
本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 符合以上标准。
磁卡识别卡双向反复弯扭试验机技术参数：
1. 型号：HY-IC
2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°，总扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.长边小位移量为2mm±0.50mm
8.短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.长边小位移量为1mm±0.50mm
10.電 壓：AC220V±5%
11.外形尺寸：L670 X W380 X H220
12.功 率：35W
13.儀器重量：70kg
标准双向扭转：
长边弯曲工位数：5工位
短边弯曲工位数：5工位
双向扭转工位数：5工位
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