一、技术要求
1 外观与初步检查
1.1 仪器应有下列标志：仪器名称、型号、制造厂名、出厂编号与出厂日期等。
1.2 仪器及附件的所有紧固件应紧固良好；连接件应连接良好；运动部件应运动灵活、平稳；气路系统应可靠密封，不得泄露。
1.3 仪器的各旋钮及功能键应能正常工作；由计算机控制或带微机的仪器，当由键盘输入指令时，各相应的功能应正常。
2 波长示值误差与重复性
波长示差误差不大于±0.5nm，波长重复性优于0.3nm。
3 分辨率仪器光谱带宽为0.2nm 时，应可分辨279.5nm和279.8nm双线。
4 基线稳定性
30min内静态基线和点火基线的稳定性应不大于下表所列指标。
项目 | 新制造 | 使用中和维修后 |
静态基线 | zui大零漂 zui大瞬时噪声 | ±0.005 0.005 | ±0.006 0.006 |
点火基线 | zui大零漂 zui大瞬时噪声 | ±0.006 0.006 | ±0.008 0.008 |
5 边缘能量
在仪器波长处，应能对193.7nm，铯852.1nm谱线进行测定，其瞬时躁声应小于0.03A。
6 火焰法测定铜的检出限（CL(K =3)）和精密度（RSD）
新制造仪器应分别不大于0.008µg/ml和1%；使用中和修理后的仪器应分别不大于0.02µg/ml和1.5%。
7 石墨炉法测定隔的检出限（CL(K =3)），特征量（C。M。）和精密度（RSD）
新制造仪器应分别不大于2pg， 1pg和5%；使用中和修理后的仪器分别不大于4pg， 2pg和7%。
8 样品溶液喷吸量和表现雾化率
吸喷量应不小于3ml/min； 雾化效率应不小于8%。
9 背景校正能力
在背景衰减信号约为1A时，校正后的信号应不大于该值的1/30。
10 绝缘电阻
仪器的绝缘电阻应不小于20MΩ。
11新制造的仪器必须全面进行1~10条的检定；使用中和修理后的仪器原则上进行第2~7条及第9条的检定，必要时增加第8条的检定。
四 检定项目和检定方法
1 外观与初步检验
仪器外观与初步检查应符合第1条规定。
2 波长示值误差与重复性检定
2.1 波长的测量
2.1.1 按空心阴极灯上规定的工作电流，将汞灯点亮，待其稳定后，在光谱带宽0.2nm条件下，从下列汞、氖谱线253.7；365.0；435.8；546.1；640.2；724.5和871.6nm中按均匀分布原则，选取三至五条逐一作三次单向（从短波向长波方向）测量，以给出zui大能量的波长示值作为测量值，然后按15.2款的方法计算波长示值误差与重复性。
2.1.2 对于自动设定波长的仪器，可从打印出的谱线轮廓图或 显示屏幕上读出波长的测量值。
2.2 波长示值误差与重复性的计算
2.2.1 波长示值误差（Δλ）按下式计算；
式中： λr—汞、氖谱线的波长标准值；
λi—汞、氖谱线的波长测量值。
2.2.2波长重复性（δλ）按下式计算；
式中 λmax—某谱线三次波长测量值中的zui大值；
λmin—某谱线三次波长测量值中的zui小值。
3 分辨率检定
点亮锰灯，待其稳定后，光谱带宽0.2nm，调节光电倍增管高压，使279.5nm谱线的能量的100，然后扫描测量锰双线，此时应能明显分辨出279.5和279.8nm两条谱线，且两线间峰谷能量应不超过40%。
4 基线稳定性检定
4.1 静态基线稳定性，光谱带宽0.2nm，量程扩展10倍，点亮铜灯，在原子化器未工作的条件下，按以下步骤测量：
4.1.1 单光束仪器与灯同时预热30min，用“瞬时”测量方式，或时间常数不大于0.5s，测定324.7nm谱线的稳定性，既为30min内zui大漂移量和瞬时躁声（峰-峰值）。
4.1.2 双光束仪器预热30min，铜灯预热3min，再按17.1.1测定30min内zui大漂移量和瞬时躁声（峰-峰值）。
4.2 点火基线稳定性，按测铜的条件，点燃乙炔/空气火焰，吸喷去离子水，10min后在吸喷去离子水的状况下，重复17.1的测量，30min内zui大漂移量和瞬时躁声应符合第4条的要求。
5 边缘能量检定
点亮砷和铯灯，待其稳定后，在光谱带宽为0.2nm，响应时间不大于1.5s的条件下（使用中和修理后的仪器可用生产厂推荐的条件）对As193.7nm和Cs852.1nm谱线进行18.1，和18.2款（或18.3款）的测量。
5.1 两谱线的峰值能量应该可以调节到100%，且背景值/峰值应不大于2%。
5.2 测量谱线的瞬时躁声，5min内zui大瞬时躁声（峰-峰值）应不大于0.03A。
5.3 两谱线调到能量为100%时，光电倍增管的高压不超过650V，使用中和修理后的仪器可放宽到zui大高压值的85%。
6 火焰原子化法测铜的检出线（CL(K =3)）检定
7.1 将仪器各参数调至状态，用空白溶液调零，分别对三种铜标准溶液进行三次重复测定，取三次测定的平均值后，按线形回归法求出工作曲线的斜率，即为仪器测定铜的灵敏度（S）。
S=dA/dC [A/(µg·ml-1)]
7.2 在与7.1*相同的条件下，将标尺扩展10倍，对空白溶液（或浓度三倍于检出线的溶液）进行11次吸光度测量，并求出其标准偏差（SA）。
7.3 按下式计算铜的检出限：
CL(K=3)=3SA/S (µg/ml)
8 火焰原子化法测铜的精密度检定
在进行7条测定时，选择系列标准溶液中某一溶液，使吸光度为0.1~0.3范围，进行七次测定，求出其相对标准偏差（RSD），即为仪器测铜的精密度。
9 石墨炉原子化法测镉的检出限（CL(K=3)）检定
9.1 将仪器各参数调至工作状态，分别对空白和三种镉标准溶液进行三次重复测定，取三次测定的平均值后，按线形回归法求出工作曲线斜率，即为仪器测镉的灵敏度（S）。
S=dA/dQ=dA/d(C×V)
(A/pg) 式中 C——溶液浓度 （nglml）；
V——取样体积 （µl）。
9.2 在与9.1款*相同的条件下，对空白溶液进行11次吸光度测定，并求出其标准偏差（SA）。
9.3 按下式计算仪器测镉的检出限：
CL(K=3)=3SA/S (g)
9.4 仪器测定镉的特征量（C.M.）按下式计算：
C.M.=0.0044/S (pg)
10 石墨炉原子化法测镉的精密度检定
在进行第9条测定时，对3.00ng/ml的镉标准溶液进行七次重复测定，并求出其相对标准偏差（RSD），即为仪器测镉的精密度。
11 样品溶液的吸喷量（F）和表现雾化率（ε）检定
11.1 在与7条相同的条件下，在10ml量筒内注入去离子水至zui上端刻线处，将毛细管插入量筒底部，同时启动秒表，测量1min时间内量筒中水所减少的体积，即为吸喷量（F）。
11.2 将毛细管那出水面，待废液管出口处再无废液排除后，将它接到10ml量筒（量筒1）内（注意：保持一段水封）。在另一量筒（量筒2）内注入10ml水，在与23.1款相同的条件下，将毛细管插入水中，直至10ml水全部吸喷完毕，待废液管中再无废液排出后，测量排出的废液体积V（ml），并计算表现雾化率（ε）：
ε =10-V/10ⅹ100%
12 背景校正能力检定
12.1 对于仅有火焰原子化器的仪器，在Cd228.8nm波长下，先用无背景校正方式测量，调零后将屏网（吸光度约为1）插入光路，读下吸光度A1，再将测量方式改为有背景校正方式，调零后，再把屏网插入光路，读下吸光度A2。
12.2 对于带石墨炉的仪器，将仪器参数调到石墨炉测镉的状态，以峰高测量方式*行无背景校正测量，用移液管加一定量的氯化钠溶液(该溶液浓度为5.0mg/ml，必要时可稀释)，使产生1左右的吸收信号，读下吸光度A1，再用有背景校正方式测量，加入相同的氯化钠溶液并读下吸光度A2。
12.3按12.1或12.2款的方法测出A1和A2后，所计算的A1/A2值应符合一中的第9条规定。
