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MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪 MC-2010A型涂（镀）层测厚仪

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更新时间：2021-10-30 15:31:12浏览次数：103次

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南京天测科技有限公司

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产品简介

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪是科电公司的新型产品

详细介绍

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪是科电公司的新型产品。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷；且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已经达到国际同类仪器的*水平。

二、产品性能

1、测量范围：　　0~1200um
2、测量误差：　　<3%±1um
3、最小示值：　　1um
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
(1).测量：内置探头全量程测厚
(2).统计：设有三个统计量：平均值、值、最小值
(3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准
(4).电量：具有欠压显示功能
(5).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示
(6).关机：具有自动关机和手动关机两种方式
6、电源：　　　两节1.5v电池
7、功耗：　　　功耗110mw
8、外形尽寸：　115mm*45mm*25mm
9、重量：　　　　　100g（含电池）
10、使用环境温度：　0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%
11、基体最小厚度： 0.3mm
12、基体最小平面的直径： 7mm
13、最小曲率半径：凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示：右上角显示＂＂
*临界厚度值：工件基体厚度大于1mm时，其涂层厚度的测量不受基体厚度影响。

三、MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪配置单

1、涂层测厚仪MCW-2010A 一台

2、1.5v电池 (7号) 二节

3、标准样片　　　　　　一盒

4、标准基体一块

5、小铝箱一个

6、说明书、合格证一套

MC-2010A型涂层测厚仪工作原理：MC-2010A型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。
二、产品性能
MC-2010A型涂镀层测厚仪技术参数
1、测量范围：0~1200um
2、测量误差：<3%±1um
3、最小示值：1um
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
(1).测量：内置探头全量程测厚
(2).统计：设有三个统计量：平均值、值、最小值
(3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准
(4).电量：具有欠压显示功能
(5).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示
(6).关机：具有自动关机和手动关机两种方式
6、电源：两节1.5v电池
7、功耗：功耗100mw
8、外形尺寸：115mm*45mm*25mm
9、重量： 100g(含电池)
10、使用环境温度：　0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%
11、基体最小厚度： 0.5mm
12、基体最小平面的直径： 7mm
13、最小曲率半径：凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示：右上角显示＂＂
*临界厚度值：工件铁基厚度大于1mm时，其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。

三、MC-2010A型涂层测厚仪配置单

1、涂层测厚仪MC-2010A 一台

2、1.5v电池 (7号) 二节

3、标准样片　　　　　　一盒

4、标准铁基一块

5、小铝箱一个

6、说明书、合格证一套

关键词：涂层测厚仪电池测厚仪镀层测厚仪