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广精精密仪器有限公司
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JVL系列光学影像测量仪能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制
JVL系列光学影像测量仪
能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制。本产品适用于产品开发、逆向工程、品质检测等领域，如钟表零件、电子接插件、五金冲压件、弹簧、线路板等。
JVL系列光学影像测量仪 特点：
OVM Lite简易版影像测量软件，易学易用；
高硬度、高精密、不易变形的花岗石底座及立柱，稳定、耐用；
底光和表面光采用可调式冷光源（LED），性能稳定，方便操作；
测量过程中可连续变倍，使操作更快捷；
X、Y轴均采用滑块和导轨结构，减小测量误差，保证测量精度；
具备图文报表输出功能，可以轻松地得到检测结果。
JVL系列光学影像测量仪 技术参数：
型号 JVL2010 JVL3020 量测行程(X/Y) (mm) 200×100×100 300×200×200 全机尺寸（mm） 1000×650×1650 机台承重kg 30 操作方式 手动（可切换快速移动 放大倍率 光学放大：0.7～4.5×；影像放大：28×~180× 电源要求 110V—220V±10% 50/60HZ 光学尺解析度 0.001mm 线性精度（X/Y） (3+L/200)μm 量测精度 X和Y轴：±2μm 重复性 ±2μm CCD 进口彩色（41万象素SONY sensor） 测量软件 OVM Lite 适合环境 温度：20～25℃ 湿度：50%~60% 电脑配置 高性能主机+17寸纯平彩显 JVL系列光学影像测量仪主要功能： 几何直接点取测量功能，基本几何测量，组合元素测量，形位公差评定，座标系设定，二维图形抄数， WORD、EXCEL及CAD格式输入。
使用鼠标点取工件影像完成自动捕捉功能，不用移动机台就可以完成测量,操作效率远超投影仪。 JVL系列光学影像测量仪量测功能：
基本几何测量：点、线、圆、弧、角度；
组合元素测量：点、线、圆、弧、组合测量，圆心距、圆切线、两线中线、中心点、垂直距离、角平分线、两线交点；
形位误差评定：
同心度、真圆度、直线度、位置度、倾斜度；
坐标系设定：
有原始座标、座标平移、座标旋转、三点轴，针对物件的图形进行摆正,或是重设新的座标系都很方便。
测量数据可输入通用的办公软件进行统计，如WORD、EXCEL格式，并制作成检验报表打印出来。
JVL系列光学影像测量仪注意事项：
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