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详细摘要:超声波测厚仪/低温 ZXHD/DR85。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上,既可以迅速准确测量出被测物体厚度。 一、技术参数 技术参数 DR85S 声波测厚仪 量程 0.75-400mm(标配探头:5P,φ10) 显示精度 0.01mm 测量误差 ±(0.1+1%H)mm H为被测物体厚度 材料声速 1000 产品型号:所在地: 参考价:¥1300
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详细摘要:(LQS)铝膜测厚仪库号:M334408因而提高了薄膜对气体的阻透性,铝膜的厚度直接影响膜阻透性,因而测试和控制铝膜厚度尤为重要,该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。 产品型号:型号:M334408所在地: 参考价:面议
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