L200膜厚仪

简单介绍 ：
L200膜厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法，是一种超小型测量仪。
可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)，也可测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。
本仪器可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。

详细介绍：
美国LEE INSTRUMENTS公司是专业生产涂层测厚仪的公司，产品精度高，稳定可靠，坚固耐用！一直为和航空航天行业独自使用，近年来美国才允许出口到国外！
L200膜厚仪设计便携耐用，使其能在苛刻条件下正常使用，具有一键操作功能，无须校准，也不用重设即可进行下一次测量，无需对操作人员进行培训即可操作。
L200 膜厚仪功能：
可进行零点校准及全量程校准。红宝石防磨探头。可对探头进行基本校准。具有自动关机功能。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。

L200膜厚仪指标：
*测量原理：磁感应法和涡流法（Fe/NFe两用探头）
*测量范围：1～1250μm
*测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）
*分辨率：1μm
*工件要求：*小曲率半径（mm）凸5 / 凹 25 ；
接触*小面积直径10mm×10mm；
基体*小厚度Fe:0.2 mm；NFe:0.05mm
*使用环境：温度0-60摄氏度；湿度 20%-75% ；无磁场环境
*电源：四节1.5伏AAA电池
*外形尺寸：112 ×69×28mm
*重量：82 g(不含电池)

标准配置：
主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池