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武汉顿杰测量仪器有限公司
XT V 160也被称为Revolution,是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。
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XT V 160:电子检测用纳米技术(NanoTech) X射线系统
XT V 160也被称为Revolution,是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。
该系统提供了一个结构紧凑的系统内可能获得的zui高分辨率和放大倍数,非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测。
XT V 160是一款通用工具,使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。zui为重要的是,它可用于计算机断层扫描CT检测,根据其完整的三维图像,重构该试样。
设计用于* BGA和μBGA 检测,多层板检测和PCB焊接点检测,XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便,分辨率高和成本低廉的检测解决方案,是检测实验室*的骨干设备。
XT V 160 检测优点
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