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探针式轮廓仪（台阶仪/膜厚仪） Dektak XT

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产品型号Dektak XT

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更新时间：2018-05-14 09:00:00浏览次数：670次

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产品简介

Dektak XT 台阶仪重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的，更加巩固了其地位。通过整合其产品，Dektak XT实现了Z高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代Dektak XT台阶仪，能够在微电子，半导体，LED、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量

详细介绍

探针式轮廓仪（台阶仪/膜厚仪） Dektak XT

布鲁克 Dektak XT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供的重现性，重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，Dektak XT实现了zui高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代Dektak XT台阶仪，能够在微电子，半导体，超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。