Leica 离子减簿仪 电镜制样显微镜 离子减薄仪 返回列表页

Leica 离子减簿仪 电镜制样显微镜

使用徕卡 EM RES102，使您的样品具备高水平的灵活性，具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。*的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。

各种样品架可以进行多元化应用。除了高能量的离子铣工艺，徕卡EM RES102也可适于采用低离子能量处理非常柔软的样本。

高效并节约成本

• TEM，SEM和LM应用功能集于一体
• SEM样品制备大可达25mm样品直径
• TEM样品制备获得的薄区大，有效提高了TEM样品制备效率
• 局域网功能方便远程操控

安全

离子源和样品运动马达驱动，程序化控制，因而可获得重复性制样结果

保持样品原生态

LN₂样品台使得温度敏感型样品可在优化条件下进行离子研磨

操作简便

• 内置应用参数库  
• 帮助文件帮助初学者以及对设备进行维护

TEM或SEM样品制备 – 在于您的选择

为了支持多样化的应用需求，Leica EM RES102 可以装配各种样品台以适用于TEM，SEM及LM样品制备。预抽室系统实现样品快速交换，从而可有效提高样品交换效率 。

SEM

斜坡切割样品台适用于切割样品获得纵截面(90°)或斜截面(35°)，便于SEM观察样品内部纵向结构，可以在环境温度下或 LN₂ 制冷情况下使用。

该样品台适用于SEM和LM样品的离子束清洁，抛光和衬度增强，可在环境温度下或 LN₂制冷情况下使用。SEM样品台可以制备大尺寸达 25mm 的样品。适配器用于夹持商品化生产的带有3.1mm直径插针的SEM样品座。

薄片样品台用于夹持大尺寸为5(H)×7(W)×2(D) mm样品。该样品台可以很方便地被直接转移进SEM中，而不需要取出样品。

TEM

TEM样品夹用于单面或双面离子束减薄，减薄角度可低至4°。

TEM冷冻样品夹具与LN₂制冷装置联用，用于制备温度敏感型样品。

FIB清洁样品台用于清洁FIB样品，减少表面无定形非晶层。

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