潘经理
当前位置:山东正义检测科技有限公司>>超声波测厚仪>> 奥林巴斯38DL PLUS超声测厚仪
测量范围 | 0.08毫米~635毫米 | 加工定制 | 否 |
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显示方式 | 数显 |
主要特性
•可与双晶和单晶探头兼容。
•宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
•使用双晶探头进行腐蚀测厚。
•穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
•内部氧化层/沉积物软件选项。
•对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
•使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
•多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
•高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
•厚度、声速和渡越时间测量。
•差分模式和缩减率模式。
•时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。
•带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
•用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
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