宇问EC770XE分体涂层测厚仪 返回列表页

技术指标

测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）；

测量范围：F:0~5000um；N:3000um

测量精度（典型值）：± (读数的2%+1um)；

分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~5000um (0.01mm)；

校准：零点校准;

数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置；

统计值：支持平均值、小值、大值和标准方差；

支持单位：um, mm, mils；

报警：用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示；

曲率半径：凸5mm，凹25mm；

测量面积：直径20mm；

基材厚度：0.2mm（F探头）；0.05mm（N探头）；

电脑接口：可通过USB口连接计算机下载数据；

电源：两节1.5V AAA电池；

操作温度：0~40℃；

保存温度：--20℃ to 70℃；

尺寸：110mm*53mm*24mm；